Demonstrated is a first of a kind hybrid analog-digital laser beam profiler based on a digital micro-mirror device. Tests at 1550 nm show a 2 micron profiling resolution over a 600 micron side square zone.


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    Titel :

    Reliable super resolution beam profiler for lasers in manufacturing


    Beteiligte:
    Riza, N.A. (Autor:in) / Ghauri, F.N. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.01.2005


    Format / Umfang :

    1374287 byte




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch



    Reliable Super Resolution Beam Profiler for Lasers in Manufacturing

    Ghauri, F. | British Library Conference Proceedings | 2005


    High resolution current profiler

    Rowe, F.D. / Deines, K.L. / Gordon, R.L. | Tema Archiv | 1986



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    Gubarev, Mikhail V. / Kilaru, Kiranmayee / Merthe, Daniel J. et al. | NTRS | 2013


    Status of Multi-Beam Long Trace- Profiler Development

    V.M Gubarev / K Kilaru / J.D Merthe et al. | NTIS | 2013