The numerical aperture increasing lens (NAIL) technique is applied to imaging and spectroscopy of single InGaAs quantum dots (QDs). Using NAIL, we demonstrate a resolution of 350 nm (/spl sim//spl lambda//3) and a six-fold collection efficiency increase.


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    Titel :

    Numerical aperture increasing lens microscopy for high resolution and high collection efficiency spectroscopy of single quantum dots


    Beteiligte:
    Vamivakas, A.N. (Autor:in) / Liu, Z. (Autor:in) / Ippolito, S.B. (Autor:in) / Mirin, R. (Autor:in) / Goldberg, B.B. (Autor:in) / Unlu, M.S. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2005


    Format / Umfang :

    947799 byte




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch



    High resolution subsurface thermal imaging using a numerical aperture increasing lens

    Eraslan, M.G. / Vamivakas, A.N. / Ippolito, S.B. et al. | IEEE | 2005


    Comparison of numerical aperture increasing lens and standard subsurface microscopy

    Ippolito, S.B. / Goldberg, B.B. / Unlu, M.S. | IEEE | 2001




    Laser Signal Injection Microscopy of Si Integrated Circuits with a Numerical Aperture Increasing Lens

    IEEE Lasers and Electro-optics Society | British Library Conference Proceedings | 2005