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    Titel :

    Modeling Defect Enhanced Detection at 1550 nm in Integrated Silicon Waveguide Photodetectors


    Beteiligte:
    Logan, D.F. (Autor:in) / Jessop, P.E. (Autor:in) / Knights, A.P. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.01.2009


    Format / Umfang :

    8 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    621.3692



    Germanium on Double-SOI Photodetectors for 1550 nm Operation

    IEEE | British Library Conference Proceedings | 2003


    Germanium on double-SOI photodetectors for 1550 nm operation

    Dosunmu, O. / Emsley, M.K. / Cannon, D.D. et al. | IEEE | 2003




    High Speed Resonant Cavity Enhanced Ge Photodetectors on Reflecting Si Substrates for 1550 nm Operation

    Lasers and Electro-optics Society (Institute of Electrical and Electronics Engineers) | British Library Conference Proceedings | 2004