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    Titel :

    Radiation Effects in Commercial GaN HEMT Devices


    Beteiligte:
    Harris, Richard (Autor:in) / Hoffaman, James (Autor:in) / Scheick, Leif (Autor:in) / Skinner, James (Autor:in)

    Kongress:

    2nd Annual NEPP Electronic Technology Workshop (ETW) ; 2011 ; Greenbelt, MD, United States


    Erscheinungsdatum :

    28.06.2011


    Medientyp :

    Sonstige


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch





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